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高低溫循環(huán)試驗箱主要參數(shù)詳細(xì)介紹

更新日期:2015-01-06 點擊量:1686

    高低溫循環(huán)試驗箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備;適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗;特別適用于光纖、LCD、晶體、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。

    高低溫循環(huán)試驗箱技術(shù)參數(shù):

    設(shè)備型號:HL-80

    溫度范圍:-70℃~+100℃

    溫度偏差:≤±2.0℃

    溫度波動度:≤±0.5℃

    升溫時間:2~3℃/min(設(shè)備空載時)

    降溫時間:0.7~1℃/min(設(shè)備空載時)

    工作室尺寸(深×寬×高):400*400*500mm

    外型尺寸(深×寬×高):950*950*1360mm

     

    高低溫循環(huán)試驗箱符合標(biāo)準(zhǔn):

    低溫試驗箱技術(shù)條件:GB10589-2006

    高低溫試驗箱技術(shù)條件:GB10592-2006

    高溫試驗箱技術(shù)條件:GB11158-2006

    低溫試驗方法A:GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)

    高溫試驗方法B:GB2423.2-2001(IEC68-2-2)

    高低溫交變試驗(僅濕熱型):GB/T2423.4-1993

    高溫試驗方法:GJBl50.3-86(MIL-STD-810D)

    低溫試驗方法:GJBl50.4-86(MIL-STD-810D)

    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備:GB/T5170.2-1996

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