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高低溫循環(huán)試驗箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備;適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗;特別適用于光纖、LCD、晶體、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。
高低溫循環(huán)試驗箱技術(shù)參數(shù):
設(shè)備型號:HL-80
溫度范圍:-70℃~+100℃
溫度偏差:≤±2.0℃
溫度波動度:≤±0.5℃
升溫時間:2~3℃/min(設(shè)備空載時)
降溫時間:0.7~1℃/min(設(shè)備空載時)
工作室尺寸(深×寬×高):400*400*500mm
外型尺寸(深×寬×高):950*950*1360mm
高低溫循環(huán)試驗箱符合標(biāo)準(zhǔn):
低溫試驗箱技術(shù)條件:GB10589-2006
高低溫試驗箱技術(shù)條件:GB10592-2006
高溫試驗箱技術(shù)條件:GB11158-2006
低溫試驗方法A:GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)
高溫試驗方法B:GB2423.2-2001(IEC68-2-2)
高低溫交變試驗(僅濕熱型):GB/T2423.4-1993
高溫試驗方法:GJBl50.3-86(MIL-STD-810D)
低溫試驗方法:GJBl50.4-86(MIL-STD-810D)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備:GB/T5170.2-1996
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